四探针测试仪是一种运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，其测试探头上有用到钨针。这种钨针主要采用的是高耐磨碳化钨针，具有使用寿命长、定位准确、游移率小等特性。
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四探针测试仪的测试探头上的钨针：根据仪器名就可以知道，该测试仪上有四根探测钨针；探针间距为1mm；探针主要成分为碳化钨，直径为0.5mm。
这种测试仪主要用于测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（方块电阻）。也就是说，钨针适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校等对半导体材料的电阻性能的测试。
