半导体测试探针用什么材料的探针？半导体测试探针用钨针。钨探针主要用于半导体的最终测试阶段。用来连接芯片和测试板的钨探针是影响接触和电气特性的一个重要因素。通俗来说，探测钨针的存在是为了识别良品和不良品。
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钨针通常被安装在探针卡或探针台上。它被制成具有精细的尖端形状。这是为了让它在与芯片接触时不对芯片电极本身造成损伤。半导体测试探针要求材料具有高纯度和高精度，所以钨探针通常采用高纯钨打造而成，且具有超细针尖，表面光滑无伤，光洁度能达到Ra0.25以上。
