据悉，有专家利用椭圆偏振光谱对电致变色材料用三氧化钨薄膜进行相关研究。专家表示，这种方法之所以在薄膜材料的光学分析中具有独特的优势是因为它具有快速测试、非接触式、精度高、非破坏性的特点。
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http://www.tungsten-powder.com/chinese/tungsten_oxide.html
也有报道提及，虽然之前已经有一些专家学者利用椭圆偏振光谱对WO3薄膜进行研究，但是也仅仅是研究了无定形态WO3薄膜，并且只关注了其光学常数的变化。也就是说，晶态WO3椭偏研究仍然缺乏。此外，无定形WO3与晶态WO3之间的差异以及WO3电致变色过程中的光学常数和变色机理之间的关系也没有被充分研究。
