透明隔热膜用蓝色纳米氧化钨的晶粒形貌可以通过透射电镜观察到。以下介绍一种观察粉末晶粒形貌的方法,即从微米级颗粒中直接切取供透射电子显微镜研究的薄膜。具体的制样步骤如下:
第一步:首先,把颗粒试样单层地镶置在金属铜中。单层镶置主要是为了提高制膜的效率,同时也为取膜部位选定了基准坐标。
第二步:将蓝色氧化钨粉末试样颗粒牢固地镶置在金属铜中后,从单层镶置的试样两面用磨抛的机械减薄的方法进行减薄,直至从单层的正反面均能观察到被减薄的颗粒层。
第三步:从颗粒层中直接切取到一些粗制的薄膜,最后用离子减薄仪把薄膜减至可供透射电镜研究的纳米数量级程度。
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