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作者：钨制品生产商、供应商-厦门中钨在线    文章来源：网络转载    更新时间：2015-10-21 14:15:57

X射线光电子谱分析PANI-W03薄膜

【中钨在线新闻网-钨新闻】

 

对所PANI-W03薄膜进行X射线光电子谱(XPS)分析，全谱如图5.9所示，N1s和O1s峰及其分峰拟合结果如图5.10所示。S-PANI薄膜的N1s峰可以分解为两个部分，结合能为400.8eV的是+1价N原子的特征峰，结合能为399.5eV且半高宽较小的是不带电荷的N原子。硫酸掺杂的PANI的N原子的两个峰的面积比约为1>表明其具有最高的掺杂程度。而在PANI-W03-1和PANI-W03-2薄膜中，这个比例分别为1:2.1和1:1.03，表明PANI-Wq-2基本达到完全掺杂，而PAN1-W03-1的掺杂程度较低。各薄膜的Ois峰也可以分解成两个部分:结合能较低的是W03薄膜的是与W相连的。原子，结合能较高的是一OH上的O原子。O1s峰的两部分的面积比分别为1.30(W03薄膜)，1.23(PANI-W03-1薄膜)和0.91(PANT-W03-2薄膜)，说明在PANI-WO3薄膜中具有更多的-OH。这是由于WO3均匀分散在PANI中，导致了更多的界面的出现，从而具有更多的-OH悬挂键。

 

钨制品生产商、供应商：中钨在线科技有限公司

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